4–7 лютого 2020 року в м. Славському відбулась VI Всеукраїнська науково-технічна конференція молодих вчених у царині інформаційно-вимірювальних технологій та метрології «Technical Using of Measurement». Організаторами конференції були кафедра інформаційно-вимірювальних технологій Національного університету «Львівська політехніка», Академія метрології України, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», ДП «Науково-дослідний інститут метрології вимірювальних і управляючих систем» (ДП НДІ «Система»).
На конференції було представлено понад 50 доповідей з 18 організацій різних міст України – Львова, Києва, Сум, Харкова, Одеси, Івано-Франківська, Луцька. На конференції був також запрошений учасник із Політехніки Опольської.
Наукові доповіді, виступи й дискусії дали можливість здійснити продуктивний обмін досвідом між вітчизняними досвідченими та молодими науковцями і практиками у сфері метрологічної діяльності, зміцнити взаємозв’язки між закладами вищої освіти для подальшої наукової співпраці, забезпечити обмін результатами досліджень за тематикою конференції, сформувати рекомендації щодо вдосконалення метрології та метрологічного підтверджування й управління якістю в освіті та промисловості.
